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PCT老化试验箱

PCT老化试验箱

产品简介
☆产品型号:R-PCT-350
☆适用场所:线路板、多层线路板、IC、LCD、磁铁等产品之
☆产品简介:PCT老化试验箱主要测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间的仪器设备。
☆订购热线:400-088-3892
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PCT老化试验箱
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产品应用范围
PCT老化试验箱适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板,多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测,相关之产品作加速寿命试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性,气密性。
产品说明


PCT老化箱(又名PCT高压加速老化试验机)主要用于评估在压力、温湿度环境下半导体、非密封封装器件可靠性的试验设备。这是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度 - 湿度 - 压力的各种条件来完成的。这些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到模具/装置上。


PCT老化试验箱测试结构:


压力蒸煮锅试验(PCT)结构:试验箱由一个压力容器组成,压力容器包括一个能产生100%(润湿)环境的水加热器,待测品经过PCT试验所出现的不同失效可能是大量水气凝结渗透所造成的。


适用标准:

GB/T2423.40 / IEC60068-2-66JESD22-A102-DJESD22-A110-DJESD22-A118-A


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本文关键词: PCT老化试验箱   pct高压老化试验箱   
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